離子注入后不退火行不行?
離子注入后都會退火,退火的作用是什么?不退火行不行?
離子注入對硅片造成哪些影響?
離子注入時,高能的雜質(zhì)離子加速撞擊硅片表面,將其動能轉(zhuǎn)化為熱能和位移能,引起硅原子的遷移和重排,破壞了硅的晶格結(jié)構(gòu),會產(chǎn)生位錯、空位等缺陷。另外,雜質(zhì)離子被注入進入硅中后,這些離子大多停留在晶格間隙中,并不能很精準地進入到對應(yīng)的晶格點陣位置,那么就很難起到改善硅導電性的摻雜作用。
1,修復:退火工藝通過高溫,使硅原子獲得足夠的能量進行擴散和遷移,重新排列成有序的晶格結(jié)構(gòu)。原子在退火過程中逐漸移動到能量最低的位置,位錯、空位等逐漸減少直至消失,從而減少晶格中的缺陷和應(yīng)力。

2,激活:退火使這些摻雜離子(As,P,B)在硅晶格中擴散,進入晶格點陣位置,與硅原子形成共價鍵,形成穩(wěn)定的摻雜原子。摻雜濃度分布均勻,電學活性提高,實現(xiàn)所需的導電特性。